sp; “除非是半导体工艺……”阿斯利康教授头皮发麻地看着画面喃喃自语。

    等到众人意识到这件玩具的精度，已经超越了传统认知上的机械加工精度时，阿斯利康教授这才让助手继续换测试设备。

    这一次，直接从扫描电子显微镜（SEM）上到了倍数更高一个层次的扫描透射电子显微镜（STEM）。

    这种级别的显微镜，能够结合电脑算法成像，一次性放大到X100万倍，去获取检测物的形貌和成分信息。

    可是随着助手不断调高倍率，从X500一路拉高到X10000，那印象中的金属断口始终没有在画面上呈现。

    如此令人细思极恐的一幕，差点让阿斯利康教授都破防了！

    “Unbelievable！”

    “突破万倍了都测不到断口！”

    “华夏的机械加工精度，都领先到这种水平了？”

    “这才是世界第一制造业大国的综合硬实力？”

    “到底是用了什么工艺？”

    阿斯利康教授整个人都愣住了。

    一直到边上做测试的助手提醒道：“教授！要不试一下，直接要上高角度环形暗场成像系统，直接测它的原子尺度！”

    阿斯利康教授闻言立马来了精神，高声道：“就用HAADF-STEM，我就不信原子尺度还发现不了它的断口！区区一件金属加工品，又不是半导体晶圆……”

    所谓的高角度环形暗场成像系统，是扫描透射电子显微镜的一个核心功能，可以通过发射电子枪（FEG）产生极细的电子探针扫描样品的表面。

    这种技术理论上的分辨率可以做到 0.05–0.1纳米，足以分辨大多数元素的原子间距。

    通常这种技术都是被应用在半导体领域或者物理研究当中，很少会用在机械加工领域制品的分析。

    毕竟半导体的晶圆成分里的硅（Si）晶体中原子间距才达到0.23 nm，恰好就在这套成像系统的检测范围内。

    可是，当几个助手兴致勃勃地开启高角度环形暗场成像系统，对着这件竹蜻蜓里里外外扫描了一圈后。

    那电脑渲染画面上呈现的样品表面结构，却让在场的所有人都脑浆沸腾了起来！

    密密麻麻的单质铁（Fe）元素排列出的密集阵列结构，犹如一道难以攻克的知识壁垒一样，对这人均博士学位的橡树岭国家实验室研究员们形成了降维打击！

    那有别于人类已知的任何一种铁晶体结构，更是让阿斯利康教授见鬼一般狂抓自己杂乱的头发惊叫了起来。

    “No way！”

    “眼前这种晶体构型既不是α-Fe的体心立方，也不是奥氏体母相γ-Fe的面心立方，甚至不是δ-Fe体心立方！”

    “这是数据库里不存在的一种全新的铁晶体构型！”

    “这种级别的冶炼技术……还有这不可思议的加工精度……华夏那些研究员到底隐藏了多少好东西？”

    阿斯利康教授赤红着双眼，看着画面上显示的检测图像，仿佛发现了某座材

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